光电材料|光电性能可调的(In1-xAlx)2O3薄膜的沉积与表征
采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术在SiO2(110)衬底上制备了光电性能可调的光电材料三元(In1-xAlx)2O3 (IAO)薄膜。
研究了不同In-Al含量x [Al/(In+Al)原子比]对光电材料IAO薄膜结构、形貌和光电性能的影响。
XRD解析揭示,伴随着In含氧量的有效降低,透明膜由**的立方米In2O3的结构转为为非晶相。
所有光电材料IAO薄膜均表现出**的光学性能,在可见范围内的平均透射率均超过84%。
当x数值为0 ~ 0.9时,复合膜的光学反应带隙可从3.71 eV熬制到5.29 eV。跟随着In含磷量的减少,霍尔迁入率和载流子酸度增涨,电容率新增。
没想到体现了,实现更改in - al酚类化合物,可不可以**地转换IAOpe膜的功能,而使可使用于短主波长光电科技电子器件的制取。
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